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Sistema de test funcional (ATEXI)

  • Permite inspeccionar los circuitos electrónicos tanto en analógico como en digital.

Información detallada del producto Sistema de test funcional

ATEXI es la sigla de ‘Automatic Test Equipment on PXI’. Es un sistema de test funcional que permite inspeccionar los circuitos electrónicos tanto en analógico como en digital.

El sistema se basa en una estructura flexible y modular que permite pasar de un test a otro sin modificar la estructura de la máquina, sino sólo remplazando un accesorio por el relativo dispositivo de prueba (DUT: Device Under Test) y eligiendo.

ATEXI es un sistema de test funcional basado en la tecnología PXI y programado con entornos de desarrollo SW avanzados:

  • TestStand
  • LABView.

El sistema se puede configurar de manera modular y escalar desde una estructura HW de base (1 generador de funciones 1 DMM, OSC a 2CH...) a una máxima (2 generadores de funciones 2 DMM; OSC a 4CH…).

Es posible actualizar ATEXI con un enfoque 'Plug&Play' para añadir un modulo PXI o un ulterior instrumento en GP-IB/RS232/LAN (entre los elegidos durante la fase de implementación) basta simplemente colocarlo en el relativo spot y la máquina de test reconocerá en automático el nuevo dispositivo. El HW de ATEXI está compuesto principalmente por:

  • Instrumentación de medida PXI, GP-IB, LAN (OSC, DMM, generadores de función, alimentadores programables, I/O);
  • Servicios de alimentación;
  • Interruptor de potencia;
  • Matrices de señales tanto analógicos como digitales;
  • Cableados;
  • PC;
  • Pantalla LCD touch-screen;
  • Mecánica de aluminio anodinado.

La parte mecánica está curada tanto del punto de vista estético como para garantizar la máxima ergonomía por parte de los operadores.

Además, ya en la configuración de base está prevista la pantalla LCD touch-screen que permite una simple y rápida interacción con el operador.

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