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Medidor por fluorescencia del espesor de recubrimiento (Fischer Fischerscope® X-Ray Xan® 250)

  • Medidor por fluorescencia universal de rayos X para un análisis rápido y no destructivo de material y espesor.

Información detallada del producto Medidor por fluorescencia del espesor de recubrimiento

Medidor por fluorescencia universal de rayos X para las máximas exigencias para un análisis rápido y no destructivo de material y espesor de recubrimiento.

Características:

  • Modelo premium para un uso universal.
  • Diafragma (colimador) de intercambio cuádruple eléctrico, filtro primario de intercambio séxtuplo eléctrico.
  • El detector de deriva de silicio (SDD) de alta resolución también es apto para análisis más complejos con múltiples elementos.
  • Dirección de medición desde abajo hacia arriba, lo que facilita el posicionamiento de la sonda.

Ámbitos de aplicación típicos:

  • Análisis de recubrimientos funcionales a partir de pocos nm en el sector de la electrónica y los semiconductores.
  • Análisis de trazas para proteger al consumidor, p. ej., contenido de plomo en juguetes.
  • Determinación de aleaciones de metales con altas exigencias de precisión en las afinerías y en el sector de la joyería.
  • Investigación en universidades y en la industria.
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